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KIFFM-E フローインジェクション化学発光分析機 300~650nm波長範囲と -100~-1000V入力高電圧

KIFFM-E フローインジェクション化学発光分析機 300~650nm波長範囲と -100~-1000V入力高電圧

高電圧流入化学発光分析機

KIFFM E フローインジェクション化学発光分析器

Place of Origin:

CHINA

ブランド名:

KACISE

証明:

CE

Model Number:

KIFFM - E

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引金 を 求め て ください
製品詳細
ゲインコントロール:
1X、2X、4X、8X、16X
フィルターカットオフ周波数調整:
10~100Hz
サンプリングレート:
1~100T/S
サンプリングレート:
1~100T/S
入れられた高圧:
-100から-1000V
安定性:
よくより0.01%
波長範囲:
300〜650nm (最大応答波長:420nm)
ハイライト:

高電圧流入化学発光分析機

,

KIFFM E フローインジェクション化学発光分析器

支払いと送料の条件
最小注文数量
1pcs
Packaging Details
each unit has individual box and all boxes are packed in standard packages or customers requests available
Delivery Time
5-8 work days
支払条件
L/C、D/A、D/P、T/T、ウェスタンユニオン、マネーグラム
Supply Ability
1000 Piece/Pieces per Week negotiable
製品説明
KIFFM - E フローインジェクション化学発光分析器の技術パラメータ
製品紹介

KIFFM - E 流入注射化学発光分析機は,中国で導入された最古の完全自動化学発光検出および分析システムです.計器は,高精度な二重ペリスタルティックポンプを統合しています. 数値制御された広速調節流量注入サンプルシステムです.,IFFS - 多機能の超弱化学発光検出器と化学スペクトラム分析ソフトウェア静的注射化学照明分析や流れ注射化学照明分析などの分析を行うことができます.

応用分野
  • 静的および流量注入光学分析に関する研究
  • 流量注入の線上試験と分析
テクニカル特徴
  • 高精度パリスタルティックポンプ 幅広くデジタル速度制御システム
  • 高精度ペリスタルティックポンプ 幅広く デジタル速度調節システム 速度調節範囲 0~99レベル
  • 前回機能は,パイプラインの溶液の振動,混合,分離,抽出を実現することができます.
  • ポンプ停止機能は,遅い反応分析やマイクロサンプリングに使用できます
  • または最大10チャネルパイプライン注入 (5チャネル/ポンプ) を達成
  • 溶液の自動稀释を実現し,最大稀释比は1である.99
  • 16 チャンネル自動/手動バルブ
  • 分析者は任意に速度,走行時間,走行方向,サイクル数,サイクル開始点, 2つの注入弁の位置,読み取り出力,静脈回転ポンプの止まりステップ
  • IFFS - 多機能化学発光検出器
  • 静的注射化学照明,毛細電球解光化学照明,毛細電球解光電気化学照明などの様々な発光検出を行うことができます.また,外部の電磁気干渉信号の影響から守るために電気化学検出のためのシールドとしても使用できます..
テクニカル仕様
  • 入力高電圧安定性:0.01%以上
  • 波長範囲: 300〜650nm (最大応答波長:420nm)
  • SP> 1000 A/Lm,プログラム可能な高精度負高電圧電源と高精度前増幅器,アナログ信号出力記録
  • 高精度データ取得システム コンピュータ制御
  • 制御力を獲得する1X, 2X, 4X, 8X, 16X
  • フィルター切断 - 周波数調整10〜100 Hz
  • 採取率: 1 - 100T/S
  • オートマティック/マニュアルゼロ設定
  • 外部信号入力インターフェース,他の機器からアナログ信号を受信できる,入力範囲: 0~5V
  • REMEX 全中国語 - 言語データ分析システム
  • 測定システムは,サンプラーパラメータの設定と制御,分析パラメータの設定と制御,化学反応動学的リアルタイムデータ取得を完了することができます.曲線を描くことも繰り返しの測定状態では,取標システムと同期して累積的重置と平均重置などの運動曲線テストを実行できます.
  • 測定したスペクトラムデータの測定と処理:測定したスペクトラムの任意の点の値を読み取ることができる.測定されたスペクトラムの任意の2つの点で波形のための有効領域を設定することができます測定したスペクトラムの異常点は"つずつまたは複数の点で除去できます.

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